X射線線陣列探測系統
英國Sens-Tech 公司是X 射線探測器和信號數據采集系統的專業開發商、供應商,其在X 射線線掃描成像和CT 領域擁有豐富且成功的經驗和技術。Sens-Tech 的系統集成信號探測、模擬信號放大、數字信號輸出于一體,有多種控制功能可選擇,可方便的與計算機連接,實現圖像或信號的數字化處理。
X射線線陣列探測系統
探測器有硅光電二管陣列和閃爍晶體組成。二管陣列可以是一維或者兩維掃描方式, 由具體應用決定。選擇探測器需要充分考慮光譜響應、電容、暗電流、靈敏度、探測面積以及串擾的影響,并選用與閃爍晶體的發射波段相匹配的探測器。并盡可能降低暗噪聲,減小偏移量,獲得的響應。同時,讓各探測單元的探測面積和串擾達到*化。
閃爍晶體根據探測能量的不同,厚度和尺寸可以根據用戶的要求進行定制。
Sens-Tech 公司目前主要提供四種X 射線數據采集產品:XDAS-V3 系列、XDAS-HE 系列、LINX 系列
Sens-Tech 標準產品的參數
材料  | 厚度  | 能量范圍  | 每單位能量的信號輸出  | 信號衰減時間  | 備注  | 
Silicon   | 300μm   | 5-30keV   | zui高,直接轉化  | 1us (非偏置)   | 光電二管直接探測,不使用閃爍晶體  | 
Gadox(Tb)   | 0.31mm   | 20-100keV   | 近似CsI   | 2-3ms   | 熒光條,無法進行像素分割來防止串擾  | 
Gadox A   | 0.2mm   | 低于Gadox(Tb)20%   | <1ms   |    | 
Gadox B   | 0.4mm   | 高于Gadox(Tb)10%   | <1ms   |    | 
CsI(Tl)   | 0.4-4mm   | 40-160keV   | 光轉換效率zui高  | 2個不同的衰減時間, 微妙級  | 像素被分割成陣列,以減少串擾  | 
CdWO4   | 2.5-30mm   | 150keV-9MeV   | 約為CsI的25%   | 20us   | 像素被分割成陣列,以減少串擾,價格昂貴  | 
GOS   | 2.9mm   | 100-200keV   | 20% than CdWO4   | 3us   | 抗強輻射  |